Test uitdagingen voor halfgeleiderapparaten van de derde generatie

Het is niet overdreven om te zeggen dat de halfgeleiderapparaten van de derde generatie innovatie hebben gebracht in de voedingsindustrie. Op basis van hun hoge snelheid, klein formaat en lage stroomverbruik worden ze steeds groter gebruikt in consumentenelektronica en stroomelektronica -industrie. Laten we eerst eens kijken naar de verschillen tussen vermogensapparaten van verschillende technologieën. De onderstaande afbeelding laat zien dat traditionele SI-gebaseerde IGBT's of MOSFET's ofwel zijn verdeeld in het hoogspannings- en lage snelheidsbereik, of in het laagspannings- en hogesnelheidsbereik. De traditionele detectietechnologie op de markt kan betrekking hebben op testvereisten voor apparaatkarakterisering. De technologie van de derde generatie halfgeleiderapparaat SIC of GAN is echter de neiging om te rijpen, vanwege de hoge snelheid, hoge bestand tegen spanning, hoge temperatuurweerstand, klein formaat en een laag stroomverbruik, het wordt steeds meer gebruikt in Power Conversion-producten , wat anders is dan traditionele prestaties. Op SI gebaseerde vermogensapparaten hebben het distributiebereik echter aanzienlijk uitgebreid, met betrekking tot hoogspannings- en hogesnelheidsgebieden die nog nooit eerder zijn verschenen, wat een zeer ernstige uitdaging vormt voor het testen van apparaten.
Dit jaar zullen SIC- en GAN -apparaten steeds meer worden gebruikt in het vakgebied van 5G -communicatievoeding, nieuwe energie -omvormer en elektrische voertuigaandrijving in de nieuwe infrastructuur die door het land is vrijgegeven, dat meer kansen biedt om ingenieurs te ontwerpen om stroomomvormerproducten te ontwerpen . Veel kansen hebben ook nieuwe ontwerpuitdagingen gebracht.
Momenteel gebruiken veel ingenieurs lage schakelkenmerken om apparaten en ontwerpcircuits in het ontwerp van het brugcircuit te evalueren. Omdat er een "grond" -referentie is, lijkt het erop dat zolang de bandbreedte en spanningsbereik zijn voldaan, het voldoende is, maar in feite negeren veel mensen het. In feite zijn de aandrijving en kenmerken van de hoogspanningszijde en de laagspanningszijde niet hetzelfde, en de bovenbuistest kan niet worden berekend op basis van de downbuis-test, maar waarom testen ingenieurs niet echt de high -Voltage zijde VGS? Vooral omdat er momenteel geen geschikte sonde en methode is om het nauwkeurige hoogspanningsstijs-aandrijfsignaal te testen, wordt het beïnvloed door bandbreedtebeperking, gemeenschappelijke modusafstotingsverhouding, signaalinterferentie, enz., Dus het kan alleen worden geschat door speculatie of Simulatie, die erg groot is. Tot op zekere hoogte wordt de onzekerheid van het productontwerp verhoogd en zijn er zelfs grote beveiligingsrisico's.
APM is een hightech onderneming die onafhankelijk onderzoek en ontwikkeling, productie, verkoop en service integreert. Met de testbron/belasting als kernproduct bieden we een volledig scala aan uitgebreide oplossingen en diensten. Producten worden veel gebruikt in ruimtevaart, nieuwe energie, stroomelektronica, intelligente productie, wetenschappelijk onderzoek en onderwijs en andere gerelateerde gebieden.
Met vele jaren van diepgaande technische achtergrond- en productie -ervaring heeft het de lokalisatie van precisie -instrumenten volledig gepromoot en wereldwijd verkocht met een eigen merk. Tegelijkertijd onderhoudt het langetermijnstrategische coöperatieve relaties met binnenlandse en buitenlandse wetenschappelijke onderzoeksteams, onderzoekt geavanceerde technologieën en toepassingsgrenzen op het gebied van meet en bevordert continu productherhaling en innovatie, waardoor producten en diensten in fundamenteel belang zijn de leidende positie in de industrie. We houden ons altijd aan de bedrijfsfilosofie van "professionaliteit, innovatie, merk en service", bieden klanten een hogere toegevoegde waarde en diensten, focussen op het testenengebied en streven naar een power-elektronische testoplossing van wereldklas wereldklant.